Delta-L損耗測試

        隨著高速互聯鏈路信號傳輸速率的不斷提高，作為器件和信號傳輸的載體，印制電路板（PCB）的信號完整性對通信系統的電氣性能有著至關重要的影響。尤其是10G和25G+產品的大規模商用，對PCB傳輸線插入損耗（Insertion Loss）指標的監控是高速PCB研發和量產過程中管控的重要手段，不同高速產品，客戶對信號損耗會有不同的要求，以服務器產品為例，Intel基于不同的服務器平臺，對PCB帶狀線和微帶線的損耗有著不同的損耗控制要求。

        Delta L法是Intel提出，目前已大量應用于服務器產品量產測試的方法，是SET2DIL方法的替代。Delta L法設計兩條不同長度的傳輸線（如圖6所示），傳輸線通過過孔（Via）、焊盤（Pad）等連接至測試探針或SMA，采用VNA測試長短線的插損值，其中，結構A的插損值ILA = ILX1 + ILVias，結構B的插損值ILB = ILX2 + ILVias，在獲取長短線的插損后，先進行擬合運算，消除多重反射的影響，再直接做差值操作，從而獲得單位長度傳輸線的插損值：IL = (ILA-ILB) / (X1-X2)。為弱化測試系統的的不匹配效應及多重反射對插損結果的影響，Delta L法對長度線的長度有嚴格要求，一般地，長短線差異需大于7.5 cm，以使多重反射的影響最小化。

        英鉑科學儀器提供Delta-L3.0，Delta-L4.0先進intel測試算法以及測試夾具精確的測試高達40GHz的插入損耗（IL）值，提供Pass/Fail判斷，通過軟件連接矢量網絡分析儀(VNA)，數據批量測試能力強，支持SMA接頭以及專用探頭硬件連接方式。